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CoWoS-R是台积电CoWoS(Chip on Wafer on Substrate)技术家族中的2.5D封装方案,以重新布线层(RDL)替代传统硅中介层,通过有机基板实现多芯片异构集成,平衡性能、成本与散热需求。
中介层创新:采用RDL(铜布线层)替代硅中介层,减少对硅通孔(TSV)的依赖,降低材料成本与工艺复杂度。
高灵活性与兼容性:支持4μm线宽/间距的精细布线,集成SoC与HBM(高带宽内存)等芯片,兼容InFO(集成扇出)技术优势。
可靠性优化:RDL与C4凸块层缓解芯片与基板间的热膨胀系数(CTE)不匹配问题,降低应变能密度,提升长期稳定性。
性能平衡:信号传输RC值较低,支持高数据速率,同时通过Metalm散热方案优化功耗,适用于中高端AI芯片与服务器处理器。
台积电计划在2024-2025年进一步升级CoWoS-R,支持更大封装尺寸(>100mm×100mm)和更多HBM堆叠(如8颗HBM3芯片),瞄准AI算力需求。
技术 | 中介层材料 | 成本 | 互联密度 | 适用场景 |
CoWoS-S(硅基) | 硅基板 | 高 | 最高(TSV) | 旗舰GPU(如英伟达H100) |
CoWoS-R(RDL) | 有机基板+RDL | 中 | 中高 | 中端AI芯片、边缘计算 |
玻璃基板技术 | 树脂玻璃 | 低 | 中 | 超大尺寸封装(未来潜在替代) |
性能上限争议:硅中介层(CoWoS-S)仍保持更高互联密度(如第五代CoWoS-S TSV数量是第三代的20倍),CoWoS-R在高端算力场景中暂无法完全替代。
替代技术威胁:美国佐治亚理工学院等机构提出玻璃基板技术,无需中介层即可直接集成芯片,成本更低且支持更大封装面积(>100mm×100mm),三星、Absolics等企业已启动商业化布局(如Absolics计划2025年量产)。
AI与HPC(高性能计算):
场景:中高端AI训练/推理芯片(如英伟达L40S、AMD MI300中端型号)、边缘服务器处理器。
驱动因素:HBM与SoC的异构集成需求,CoWoS-R可降低每瓦算力成本,满足AI服务器单机价值量提升40%-50%的市场需求(来源:雪球,2025)。
数据中心与网络设备:
场景:5G基站芯片、光通信模块,需平衡带宽与功耗的场景。
消费电子高端化:
场景:旗舰手机AP(应用处理器)与ISP(图像处理器)集成,如台积电与苹果合作的A17 Pro部分型号测试采用CoWoS-R。
英伟达2024年对CoWoS总需求同比增长3倍,其中CoWoS-R占比约30%(用于中端产品线),缓解CoWoS-S产能瓶颈(来源:财联社,2024)。
技术主导:台积电(独家供应CoWoS-R工艺,2024年产能利用率超90%)。
材料与设备:
临时键合材料:飞凯材料(已导入长电先进、盛合晶微,2024年相关业务利润预计1.5-2亿元);
RDL制造设备:应用材料(W2W键合设备)、ASML(光刻设备)。
封测厂商:通富微电(布局2.5D封装技术,承接英伟达外包订单)、长电科技。
CoWoS-R比CoWoS-S成本降低约25%-30%,但较传统FC-BGA高15%-20%,适合中高端市场。
台积电亚利桑那工厂(AP1)计划2026年投产CoWoS-R,目标产能每月5万片晶圆,服务北美AI客户。
AI算力需求:大模型训练推动HBM与GPU集成,CoWoS-R成为中高端AI芯片的“性价比之选”。
国产替代机遇:国内厂商(如通富微电、同兴达)加速研发类CoWoS-R技术,政策支持下有望分食市场份额。
技术替代:玻璃基板技术若实现商业化(如Absolics 2025年量产计划),可能冲击CoWoS-R的成本优势。
产能瓶颈:台积电CoWoS总产能(含R/S/L)2024年仍供不应求,客户可能转向三星H-Cube或英特尔EMIB技术。
技术定位:CoWoS-R是台积电以RDL替代硅中介层的2.5D封装方案,平衡性能与成本,瞄准中端AI芯片与服务器市场。
核心优势:成本较CoWoS-S低25%-30%,兼容HBM集成,缓解CTE匹配问题,可靠性更优。
市场需求:2024年英伟达等客户需求增长3倍,CoWoS-R占CoWoS总产能约30%,用于中高端AI与数据中心芯片。
产业链机会:临时键合材料(飞凯材料)、封测(通富微电)、设备(应用材料)为核心受益环节。
风险提示:玻璃基板技术商业化(2025年试产)与台积电产能瓶颈可能影响短期增长空间。
合明科技2.5D芯片清洗剂选择:
水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。
污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。
这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。
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